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顿厂搁300微纳器件光谱响应度测试系统
产物介绍

顿厂搁300微纳器件光谱响应度测试系统是一款专用于低微材料光电测试的系统。其功能全面，提供多种重要参数测试。系统集成高精度光谱扫描，光电流扫描以及光响应速率测试。40μm探测光斑，实现百微米级探测器的绝对光谱祥响应度测量。超高稳定性光源支持长时间的连续测试，丰富的光源选择以及多层光学光路设计可扩展多路光源，例如超连续白光激光器，皮秒脉冲激光器，半导体激光器，卤素灯，氙灯等，满足不同探测器测试功能的

产物型号：
更新时间：2025-04-02
厂商性质：生产厂家
访问量：3637
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顿厂搁300微纳器件光谱响应度测试系统是一款专用于低微材料光电测试的系统。其功能全面，提供多种重要参数测试。系统集成高精度光谱扫描，光电流扫描以及光响应速率测试。40μ尘探测光斑，实现百微米级探测器的绝对光谱祥响应度测量。超高稳定性光源支持长时间的连续测试，丰富的光源选择以及多层光学光路设计可扩展多路光源，例如超连续白光激光器，皮秒脉冲激光器，半导体激光器，卤素灯，氙灯等，满足不同探测器测试功能的要求，是微纳器件研究的优选。

顿厂搁300微纳器件光谱响应度测试系统功能：

■  光谱响应度
■  外量子效率
■  单色光/变功率IV
■  不同辐照度IT曲线（分辨率200ms）
■  不同偏压下的IT曲线
■  LBIC，Mapping
■  线性度测试
■  响应速率测试

主要技术参数：



叁维可调高稳定探针台结构，方便样品位置调节 
测试功能曲线：

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